使用LCR测量仪对高诱电率型村田陶瓷电容器进行测量时,有时无法得到与标称静电容量相同的值。高诱电率型村田陶瓷电容器的静电容量,会随着温度、电压(AC、DC)、频率及时间的变化而发生变化,因此,为了得到标称静电容量,需要按照下表1. 日本工业标准 JIS C 5101-1-1998年静电容量(4.7项)中规定的测量条件实施测量。
图1.温度特性 ※静电容量随着温度的变化而发生变化。
图2.DC偏压特性 ※静电容量随着不同的DC偏压而发生变化。
图3.AC电压特性 ※静电容量随着不同的AC电压而发生变化。
图4.频率特性 ※静电容量随着不同的频率带而发生变化。
图5.老化特性 ※静电容量随着时间变化而发生变化。
如上所述,高诱电率陶瓷电容器的静电容量会随着温度、电压(DC、AC)、频率和时间的变化而发生变化。测量静电容量时,需要按照上述规定的测量条件实施测量。此外,在设计电路时,使用前需充分考虑到相应的使用环境条件下的陶瓷电容器的特性。
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可以通过软件来确认偏压特性、温度特性以及频率特性。(SimSurfing)