电子元器材（含主被迫器材）在制作、运送、仓储、应用端出产、作业过程中都有可能呈现不良。为了找出真正原因，相关工程人员要对失效样品进行剖析

元器材的失效直承受湿度、温度、电压、机械等要素的影响。以下我们来逐个剖析导致元器材失效的要素有哪些：
温度导致失效

环境温度是导致元件失效的重要要素。构成双极型半导体器材的根本单元P-N结对温度的改变很灵敏，当P-N结反向偏置时，由少量载流子构成的反向漏电流受温度的改变影响，其联系为：

式中：
ICQ――温度T0C时的反向漏电流
ICQR――温度TR℃时的反向漏电流
T－TR――温度改变的绝对值

由上式能够看出，温度每升高10℃，ICQ将添加一倍。这将形成晶体管放大器的作业点发作漂移、晶体管电流放大系数发作改变、特性曲线发作改变，动态规模变小。

温度与答应功耗的联系如下：

式中：
PCM―――最大答应功耗
TjM―――最高答应结温
T―――运用环境温度
RT―――热阻

由上式能够看出，温度的升高将使晶体管的最大答应功耗下降。

因为P-N结的正向压降受温度的影响较大，所以用P-N为根本单元构成的双极型半导体逻辑元件（TTL、HTL等集成电路）的电压传输特性和抗干扰度也与温度有密切的联系。

当温度升高时，P-N结的正向压降减小，其开门和关门电平都将减小，这就使得元件的低电平抗干扰电压容限随温度的升高而变小；高电平抗干扰电压容限随温度的升高而增大，形成输出电平偏移、波形失真、稳态失调，乃至热击穿。

温度改变对电阻的影响

温度改变对电阻的影响主要是温度升高时，电阻的热噪声添加，阻值违背标称值，答应耗散概率下降等。比方，RXT系列的碳膜电阻在温度升高到100℃时，答应的耗散概率仅为标称值的20％。

但我们也能够使用电阻的这一特性，比方，有经过特别规划的一类电阻：PTC（正温度系数热敏电阻）和NTC（负温度系数热敏电阻），它们的阻值受温度的影响很大。

关于PTC，当其温度升高到某一阈值时，其电阻值会急剧增大。使用这一特性，可将其用在电路板的过流维护电路中，当因为某种毛病形成经过它的电流添加到其阈值电流后，PTC的温度急剧升高，一起，其电阻值变大，限制经过它的电流，到达对电路的维护。而毛病扫除后，经过它的电流减小，PTC的温度康复正常，一起，其电阻值也康复到其正常值。关于NTC，它的特点是其电阻值随温度的升高而减小。

温度改变对电容的影响

温度改变将引起电容的到介质损耗改变，然后影响其运用寿数。温度每升高10℃时，电容器的寿数就下降50％，一起还引起阻容时间常数改变，乃至发作因介质损耗过大而热击穿的状况。

此外，温度升高也将使电感线圈、变压器、扼流圈等的绝缘功能下降。

湿度导致失效

湿度过高，当含有酸碱性的尘埃落到电路板上时，将腐蚀元器材的焊点与接线处，形成焊点掉落，接头开裂。此外湿度过高也是引起漏电耦合的主要原因。但湿度过低又容易发作静电，所以环境的湿度应控制在合理的水平。

过高电压导致器材失效

施加在元器材上的电压稳定性是确保元器材正常作业的重要条件。过高的电压会添加元器材的热损耗，乃至形成电击穿。关于电容器而言，其失功率正比于电容电压的5次幂。关于集成电路而言，超越其最大答应电压值的电压将形成器材的直接损坏。

电压击穿是指电子器材都有能承受的最高耐压值，超越该答应值，器材存在失效危险。自动元件和被迫元件失效的表现形式稍有不同，但也都有电压答应上限。晶体管元件都有耐压值，超越耐压值会对元件有危害，比方超越二极管、电容等，电压超越元件的耐压值会导致它们击穿，如果能量很大会导致热击穿，元件会报废。

振荡、冲击影响

机械振荡与冲击会使一些内部有缺点的元件加快失效，形成灾难性毛病，机械振荡还会使焊点、压线点发作松动，导致接触不良；若振荡导致导线不应有的碰连，会发作一些意想不到的结果。可能引起的毛病形式及失效剖析：

电气过应力（Electrical OverStress，EOS）是一种常见的危害电子器材的方法，是元器材常见的损坏原因，其表现方法是过压或许过流发作很多的热能，使元器材内部温度过高而损坏元器材（我们常说的烧坏），是由电气系统中的脉冲导致的一种常见的危害电子器材的方法。